Dr. Klaus Flock

Angestellt, Principal Engineer & Key Expert, Osram Opto Semiconductors Regensburg

Regensburg, Deutschland

Über mich

Innovation and progress in industry: I am a Principle Engineer and Senior Research Scientist in Optical Metrology, including a combined 18+ years of working experience in the Hightech Industry in Silicon Valley and in the semiconductor industry in Germany; dual citizenship (USA, Germany), German and English language skills on the native speaker level; I am driven by curiosity and change. I am also holding a private pilot license with instrument rating. Currently, I am trying to answer some of the fascinating questions concerning the interaction of light and human tissue.

Fähigkeiten und Kenntnisse

3D-Messtechnik (VNAND/3D-Flash)
Optical Metrology
Ellipsometrie
Reflektometrie
UV/Vis-Spektroskopie
IR-Spektroskopie
Dünne Schichten
Physikalische Optik
Xenon Lichtquellen
Laser
Beugungstheorie/Fourier Optik
Matlab
Systementwicklung
Technische Projektleitung
Troubleshooting
Zemax
C/C++
Modellbildung
Teamleitung
Kundenorientierung
Halbleiterphysik
Halbleiterindustrie
Holography
Spatial Light Modulators
Qualitätssicherung
VCSEL
Time-of-Flight
LiDAR
Photonenbudget
Softwareentwicklung
Autonomous Driving
3D-Sensing
Laser Classification/DIN EN 60825-1

Werdegang

Berufserfahrung von Klaus Flock

  • Bis heute 6 Jahre und 10 Monate, seit Sep. 2017

    Principal Engineer & Key Expert

    Osram Opto Semiconductors Regensburg

  • 8 Monate, Aug. 2016 - März 2017

    Senior Scientist

    SeeReal Technologies GmbH
  • 11 Jahre und 5 Monate, Juli 2004 - Nov. 2015

    Physiker V

    KLA-Tencor

    R&D: Development of next generation technology (N+1) for the semiconductor industry with core expertise in process and yield control using optical metrology, such as ellipsometry/reflectometry. Measurement of thin films, n&k, critical dimensions (CD), and more recently 3D-structures, such as VNAND/3D-Flash.

Ausbildung von Klaus Flock

  • 5 Jahre und 5 Monate, Jan. 1998 - Mai 2003

    Physik

    North Carolina State University

    Development of a real-time-, in-situ-, broadband Ellipsometer to monitor heteroepitaxial growth in an OMCVD system

  • 1 Jahr und 10 Monate, Aug. 1993 - Mai 1995

    Physik

    RWTH Aachen

Sprachen

  • Englisch

    Muttersprache

  • Deutsch

    Muttersprache

  • Französisch

    Grundlagen

Interessen

Privatpiloten-Schein
Chorgesang (Pop-Esemble)
Ausdauersport

21 Mio. XING Mitglieder, von A bis Z