Dr. Carsten Deiter

Angestellt, Operations Leader Characterization - Instrumentation Scientist Fixed Targets, European XFEL GmbH

Schenefeld, Deutschland

Fähigkeiten und Kenntnisse

Festkörperphysik
Oberflächenphysik
Ultrahochvakuumtechnik
Röntgenmessverfahren
Programmieren
CAD
Solid Edge
Projektführung
Teamfähigkeit
Kommunikationsfähigkeit
UHV
MBE
Forschung
Entwicklung

Werdegang

Berufserfahrung von Carsten Deiter

  • Bis heute 10 Monate, seit Sep. 2023

    Operations Leader Characterization - Instrumentation Scientist Fixed Targets

    European XFEL GmbH

    Verantwortlicher für die Organisation des Tätigkeitsfeld "Charakterisierung" in der Gruppe "Sample Environment and Characterization". Entwickler und Berater für Probenumgebungen und die Manipulation von festen Proben für Experimente an den Instrumenten des European XFEL.

  • 10 Jahre und 3 Monate, Juni 2013 - Aug. 2023

    Instrumentation Scientist Fixed Targets - Characterization Expert

    European XFEL GmbH

    Wissenschaftler in der Gruppe "Sample Environment and Charactarization". Entwicklung von Instrumentierung für das Handling von Feststoffproben. Kontakt für die Untersuchungen von materialwissenschaftlichen Nutzerproben mittels optischer Mikroskopie und Röntgenmethoden.

  • 5 Jahre, Juni 2008 - Mai 2013

    Wissenschaftler

    DESY Hamburg

    Messplatzwissenschaftler an der "High Resolution Diffraction Beamline P08" am Speicherring PETRA III. Konzeption, Konstruktion und Aufbau von experimentellen Anlagen. Betreuung von in- und ausländischen Wissenschaftlergruppen bei der Vorbereitung und Durchführung von wissenschaftlichen Experimenten im Bereich der Physik und der Materialwissenschaften.

  • 2 Jahre und 10 Monate, Aug. 2005 - Mai 2008

    PostDoc

    Universität Osnabrück

    Aufbau der Arbeitsgruppe "Dünne Schichten und Grenzflächen" im Fachbereich Physik der Universität Osnabrück.

  • 4 Jahre und 3 Monate, Juni 2001 - Aug. 2005

    Doktorand

    Universität Hannover / Universität Bremen

    Doktorarbeit mit dem Titel "Röntgenstrukturanalyse von Halbleiter-Isolator-Schichtsystemen" Herstellung von dünnen Isolator- und Halbleiterschichten mittels Molekularstrahlepitaxie und deren Charakterisierung mittels Methoden der Röntgenstreuung und Rastersondenmikroskopie. Im letzten Jahr mit dem betreeuenden Professor nach Bremen gewechselt und die Promotion dort in der Physikalischen Chemie abgeschlossen.

  • 2 Jahre und 1 Monat, Jan. 1998 - Jan. 2000

    Wissenschaftliche Hilfskraft

    Leibniz Universität Hannover

Ausbildung von Carsten Deiter

  • 1 Jahr und 2 Monate, Sep. 2004 - Okt. 2005

    Biologie / Chemie

    Universität Bremen

    Röntgenstrukturanalyse von Halbleiter-Isolator-Schichtsystemen

  • 3 Jahre und 3 Monate, Juni 2001 - Aug. 2004

    Physik

    Universität Hannover

    Röntgenstrukturanalyse von Halbleiter-Isolator-Schichtsystemen

  • 6 Jahre und 8 Monate, Okt. 1994 - Mai 2001

    Physik

    Universität Hannover

    Festkörperphysik, Oberflächenphysik, Ultrahochvakuumtechnik, Molekularstrahlepitaxie, Rastersondenmikroskopie

Sprachen

  • Englisch

    Fließend

  • Deutsch

    Muttersprache

Interessen

Meine Jungs
Laufen / Radeln
Ultralight-Trekking
Backen von Brot und Brötchen (kleine)
Fotografieren
Astronomie

21 Mio. XING Mitglieder, von A bis Z